PicoFemto系列掃描電子顯微鏡冷凍樣品臺(tái)基于液氮低溫制冷技術(shù)，溫度范圍：-160℃至80℃。PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 冷凍樣品臺(tái) 采用獨(dú)立冷源液氮制冷方式，冷臺(tái)溫度低至-160℃，兼容雙束掃描電子顯微鏡，滿足鋰離子電池等敏感材料的高質(zhì)量截面及TEM樣品制備。冷凍樣品臺(tái)-技術(shù)指標(biāo)低溫指標(biāo)1. 制冷方式...
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PicoFemto系列掃描電鏡液體樣品臺(tái)，基于MEMS芯片封裝及電學(xué)芯片技術(shù)，實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)原位液體-電化學(xué)實(shí)驗(yàn)。PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 液體樣品臺(tái) 采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問(wèn)題。實(shí)驗(yàn)中，樣品被密封在超薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個(gè)大氣壓。芯片電極聯(lián)...
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PicoFemto系列掃描電子顯微鏡原位加熱臺(tái)基于MEMS加熱芯片技術(shù)，溫度范圍：室溫至1200攝氏度。PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡原位加熱臺(tái) 基于MEMS芯片加熱技術(shù)，無(wú)懼高溫對(duì)電鏡造成損失，通過(guò)更換不同芯片種類，實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位加熱/電學(xué)實(shí)驗(yàn)。原位加熱臺(tái)-技術(shù)指標(biāo)加熱控溫1. 四電極芯片加熱，帶溫度反...
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PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)了三維空間上的精確定位，具有小尺寸大行程、高定位精度、操作簡(jiǎn)單、能在真空下使用等優(yōu)點(diǎn)，使用于在SEM真空腔體內(nèi)完成各種納米精度運(yùn)動(dòng)操作及物性測(cè)量。PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 納米探針臺(tái) 基于壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)技術(shù)，運(yùn)動(dòng)無(wú)需潤(rùn)滑，兼容掃描電鏡真空環(huán)境，并可在多種溫度...
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PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學(xué)臺(tái)是動(dòng)態(tài)觀察和分析納米材料力學(xué)行為的重要工具。PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 納米力學(xué)臺(tái) 集成了壓電驅(qū)動(dòng)四軸樣品臺(tái)及定量力學(xué)壓頭，樣品及壓頭兩側(cè)同時(shí)控溫，是開展材料納米力學(xué)行為研究的重要工具。納米力學(xué)臺(tái)-技術(shù)指標(biāo)力加載指標(biāo)加熱控溫1. 載荷大小：0-100mN；1. ...
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PicoFemto系列掃描電子顯微鏡加熱拉伸臺(tái)是動(dòng)態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂的重要工具。PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 加熱拉伸樣品臺(tái) 是研究材料微觀變形行為的重要工具，通過(guò)軟件設(shè)定載荷、拉伸速率及溫度，結(jié)合掃描電鏡大景深、高分辨的優(yōu)勢(shì)，可開展多種微觀力學(xué)實(shí)驗(yàn)。加熱拉伸臺(tái)-技術(shù)指標(biāo)力加載指標(biāo)加熱控溫1....
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PicoFemto系列透射電鏡氣體樣品桿，基于MEMS芯片封裝及微區(qū)加熱技術(shù)，桿身集成氣路通道，實(shí)現(xiàn)透射電鏡內(nèi)原位氣氛加熱實(shí)驗(yàn)。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡氣體樣品桿基于MEMS芯片封裝及微區(qū)加熱技術(shù)，桿身集成氣路通道，在透射電子顯微鏡中營(yíng)造高溫氣氛環(huán)境（ 1 Bar & 800 ℃） ，使研究者可以...
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PicoFemto系列透射電鏡原位光學(xué)樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術(shù)，樣品桿內(nèi)集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實(shí)現(xiàn)透射電鏡內(nèi)的光電測(cè)量或光譜學(xué)表征研究。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位光學(xué)樣品桿 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，同時(shí)集成光纖單元，可外接光源或光譜儀，開展光電測(cè)量...
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