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掃描電鏡與透射電鏡的區(qū)別是什么

SEM（掃描電鏡）和TEM（透射電鏡）是兩種常用的電子顯微鏡技術(shù)，它們在工作原理、應(yīng)用范圍和圖像獲取方式等方面存在明顯的區(qū)別。

選擇適合掃描電鏡（SEM）觀察的樣品時，需要考慮以下幾個因素：

觀察生物樣品時，使用掃描電鏡（SEM）需要注意以下問題：

掃描電鏡（SEM）可以觀察到許多材料的特征和細(xì)節(jié)。以下是一些常見的材料特征，可以通過SEM觀察到：

掃描電子顯微鏡（SEM）在納米領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。

優(yōu)化掃描電鏡圖像的分辨率是提高圖像清晰度和細(xì)節(jié)顯示的關(guān)鍵。

使用掃描電鏡進(jìn)行表面形貌觀察可以提供高分辨率的圖像和詳細(xì)的表面結(jié)構(gòu)信息。

解決掃描電鏡中的電荷積累現(xiàn)象是保證獲得清晰圖像的重要步驟之一。以下是一些常見的方法和技巧：