SEM（掃描電鏡）和TEM（透射電鏡）是兩種常用的電子顯微鏡技術(shù)，它們在工作原理、應(yīng)用范圍和圖像獲取方式等方面存在明顯的區(qū)別。以下是SEM和TEM之間的主要區(qū)別：

工作原理：

SEM：掃描電鏡使用高能電子束掃描樣品表面，并通過檢測樣品表面反射、散射或發(fā)射的電子來生成圖像。SEM圖像是通過掃描樣品表面來獲取的，可以提供高分辨率的表面形貌信息。

TEM：透射電鏡使用電子束穿過樣品，樣品內(nèi)部的不同區(qū)域?qū)﹄娮邮耐干洚a(chǎn)生衍射和散射，然后通過檢測透射電子來生成圖像。TEM圖像是通過樣品內(nèi)部的透射電子來獲取的，可以提供高分辨率的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和晶體學(xué)信息。

分辨率：

SEM：SEM的分辨率一般在納米至亞納米級別，能夠觀察樣品表面的形貌和微觀結(jié)構(gòu)。

TEM：TEM的分辨率通常在納米至次納米級別，能夠觀察樣品的原子級細節(jié)和晶體結(jié)構(gòu)。

樣品制備：

SEM：SEM樣品制備相對簡單，樣品通常需要進行導(dǎo)電處理，如金屬涂覆或碳薄膜覆蓋。樣品可以是固態(tài)、液態(tài)或氣態(tài)。

TEM：TEM樣品制備相對復(fù)雜，通常需要將樣品制備成非常薄的截面，通常在幾十至幾百納米范圍內(nèi)。樣品通常需要通過切片、研磨和薄片制備等技術(shù)。

應(yīng)用范圍：

SEM：SEM廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域，用于觀察和分析樣品的表面形貌、微觀結(jié)構(gòu)、成分分布等。

TEM：TEM主要應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域，用于觀察和分析樣品的晶體結(jié)構(gòu)、原子級細節(jié)、界面和薄膜的形貌等。

ZEM18臺式掃描電鏡

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