選擇適合掃描電鏡（SEM）觀察的樣品時(shí)，需要考慮以下幾個(gè)因素：

導(dǎo)電性：SEM需要樣品具有一定的導(dǎo)電性，以避免電荷積聚和圖像失真。對(duì)于非導(dǎo)電樣品，可以使用導(dǎo)電涂層（如金屬涂覆）或?qū)щ娦詷悠分苽浼夹g(shù)來增加導(dǎo)電性。

大小和形狀：SEM對(duì)樣品的大小和形狀有一定要求。樣品應(yīng)適合SEM樣品臺(tái)的尺寸限制，并且表面應(yīng)盡可能平坦，以保證良好的焦點(diǎn)和掃描性能。對(duì)于較大的樣品，可能需要進(jìn)行切割或分段處理。

要觀察的特征：確定要在SEM中觀察的樣品特征和目標(biāo)。SEM適用于觀察樣品的表面形貌、微觀結(jié)構(gòu)、顆粒分布、紋理等特征。選擇具有所需特征的樣品進(jìn)行觀察。

樣品穩(wěn)定性：某些樣品在真空環(huán)境中可能不穩(wěn)定或易受損。確保樣品在SEM條件下具有足夠的穩(wěn)定性，不會(huì)因?yàn)檎婵?、電子束或其他因素而發(fā)生變化或損壞。

樣品制備：根據(jù)具體需要選擇合適的樣品制備方法。樣品制備可能涉及切割、研磨、薄片制備、金屬涂覆等步驟，根據(jù)樣品類型和目的選擇合適的制備方法。

兼容性：考慮樣品與掃描電鏡系統(tǒng)的兼容性，包括樣品臺(tái)、探測(cè)器和其他配件的兼容性。確保樣品能夠適應(yīng)SEM系統(tǒng)并進(jìn)行適當(dāng)?shù)膱D像采集和分析。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

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