PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng) 日期:2019-09-27 該產(chǎn)品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場環(huán)境(包括力、熱、光、電等),從而對材料或者器件等樣品實(shí)現(xiàn)多重激勵(lì)下的原位表征。 性能指標(biāo) 透射電鏡指標(biāo):● 兼容指定電鏡型號及極靴;● 可選雙傾版本,雙傾電學(xué)測量樣品桿Y軸傾角±25°(同時(shí)受限于極靴間距); 電學(xué)測量指標(biāo):● 包含一個(gè)電流電壓測試單元;● 電流測量范圍:1 nA-30 mA,9個(gè)量程;● 電流分辨率:優(yōu)于100 fA;● 電壓輸出范圍:普通模式±10 V,高壓模式±150 V;● 自動(dòng)電流-電壓(I-V)測量、電流-時(shí)間(I-t)測量,自動(dòng)保存。 掃描探針操縱指標(biāo):● 粗調(diào)范圍:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;● 細(xì)調(diào)范圍:XY方向18 um,Z方向1.5 um;● 細(xì)調(diào)分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。 光纖指標(biāo):● 多模光纖外徑250 um,保證電鏡系統(tǒng)真空指標(biāo);● 可選光纖探針、平頭光纖;● 配備快速SMA接頭、FC接頭; 加熱指標(biāo):● 溫度范圍:室溫到1000 ℃;● 溫度準(zhǔn)確度優(yōu)于 5% ;● 溫度穩(wěn)定性:優(yōu)于±0.1 ℃。產(chǎn)品特色 可通過簡單更換MEMS芯片種類以及不同STM探針為樣品施加至多四種激勵(lì),實(shí)現(xiàn)多種復(fù)雜的測試功能,完成以往無法實(shí)現(xiàn)的研究。(1)高溫拉伸/壓縮(加熱芯片+電學(xué)STM探針);(2)熱電子發(fā)射/場發(fā)射(加熱芯片+電學(xué)STM探針);(3)三端器件測量(電學(xué)芯片+電學(xué)STM探針);(4)電致發(fā)光現(xiàn)象研究(電學(xué)芯片+光學(xué)STM探針);(5)光電現(xiàn)象研究(電學(xué)芯片+光學(xué)STM探針)。 以上就是澤攸科技對PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)的介紹,關(guān)于整套系統(tǒng)價(jià)格請咨詢18817557412(微信同號) 透射電鏡TEM/掃描電鏡SEM核心產(chǎn)品推薦ZEM15國產(chǎn)臺(tái)式掃描電鏡國產(chǎn)臺(tái)式掃描電鏡來了透射電鏡冷凍樣品桿透射電鏡真空轉(zhuǎn)移樣品桿(單/雙傾)透射電鏡多孔樣品桿(單/雙傾)透射電鏡360°水平旋轉(zhuǎn)樣品桿(單/雙傾)透射電鏡原位拉伸樣品桿 TAG: 透射電鏡樣品桿價(jià)格 TEM廠家 雙傾樣品桿 雙傾電學(xué)測量樣品桿 TEM多場測量系統(tǒng) mst 光電力熱 力熱 掃描隧道顯微鏡 透射電子顯微鏡 TEM STM 原位樣品桿 多場 透射電鏡樣品桿 作者:小攸 上一篇:PicoFemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng) 下一篇:暫無