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如何進(jìn)行臺(tái)式掃描電鏡樣本的三維重建

進(jìn)行臺(tái)式掃描電鏡（SEM）樣本的三維重建需要多個(gè)步驟，涉及到樣本的旋轉(zhuǎn)、成像、數(shù)據(jù)采集和后期處理。

掃描電鏡（SEM）的工作溫度和樣品溫度控制方法在不同情況下可以有所不同。

掃描電鏡（SEM）中樣品的導(dǎo)電性對(duì)成像參數(shù)有重要影響。

低掃描速度和高掃描速度在樣本成像中有不同的影響和應(yīng)用：

在掃描電鏡中選擇合適的掃描速度是關(guān)鍵，因?yàn)樗苯佑绊懙綀D像質(zhì)量和分辨率。

要避免樣品在掃描電鏡（SEM）中受到輻射損傷，可以采取以下措施：

在選擇適合的探針和檢測(cè)器進(jìn)行掃描電鏡（SEM）分析時(shí)，需要考慮要研究的樣品性質(zhì)、所需分辨率、表面拓?fù)涮卣骱退栊盘?hào)類型。

EDS（能譜分析）是一種在掃描電鏡中常用的分析技術(shù)，它的主要作用是通過(guò)檢測(cè)樣品產(chǎn)生的X射線來(lái)進(jìn)行元素分析。