在掃描電鏡（SEM）成像時(shí)，如果圖像對(duì)比度太低，可以通過以下方法調(diào)整改善：

1. 調(diào)整探測器設(shè)置

切換探測器類型：比如在二次電子（SE）和背散射電子（BSE）探測器之間切換，不同探測器成像特性不同，SE 圖通常細(xì)節(jié)更清晰，BSE 圖通常成分對(duì)比更明顯。

優(yōu)化探測器增益（Gain）：適當(dāng)提高增益能增強(qiáng)信號(hào)，但過高容易引入噪聲。

2. 優(yōu)化束流參數(shù)

降低電子束電流（Beam Current）：太高的電流容易讓圖像發(fā)白、細(xì)節(jié)丟失，適當(dāng)減小可提升對(duì)比度。

優(yōu)化加速電壓（Accelerating Voltage）：

低電壓（1–5 kV）有助于表面細(xì)節(jié)成像，對(duì)比度好。

高電壓（10–20 kV）穿透深，但可能降低表面細(xì)節(jié)對(duì)比。

3. 調(diào)整成像參數(shù)

動(dòng)態(tài)范圍調(diào)節(jié)（Brightness/Contrast）：

降低亮度，增加對(duì)比度，使灰階分布拉開。

縮短掃描時(shí)間：

快速掃描減少充電效應(yīng)，也能保持清晰度，避免過曝。

4. 樣品處理

改善樣品導(dǎo)電性：

如果樣品帶電，會(huì)導(dǎo)致成像發(fā)灰、對(duì)比度低?？梢酝ㄟ^噴金、碳鍍膜等方式提升表面導(dǎo)電性。

優(yōu)化樣品傾角：

適當(dāng)傾斜樣品可以增加表面結(jié)構(gòu)的陰影效果，增強(qiáng)立體感和對(duì)比度。

5. 后期軟件調(diào)整

成像后，可以使用電鏡自帶軟件或者其他圖像處理軟件（如 ImageJ）適度調(diào)整亮度/對(duì)比度。

注意不要后期拉得過度，以免失真。