透射電子顯微鏡TEM-STM量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量。在進(jìn)行原位操縱的同時(shí)利用投射電鏡及相關(guān)附件實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，很大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能和應(yīng)用領(lǐng)域。

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