SEM納米探針臺(tái)產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了三維空間上的準(zhǔn)確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程......
ZP3-4微納探針臺(tái)可在納米尺度上對(duì)樣品和測試設(shè)備進(jìn)行電學(xué)表征。...
透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)(定量力+電+三維操縱+加熱）同時(shí)集成了力學(xué)測量模塊......
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)（非定量力+電+光+加熱）是原位透射電子......
PicoFemto透射電鏡原位光電性質(zhì)測試系統(tǒng)（非定量力+電+光+三維操縱）在標(biāo)......
PicoFemto透射電鏡原位低溫電學(xué)測試系統(tǒng)（非定量力+電+低溫+三維操縱）在......
透射電鏡原位力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng)（定量力+電+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿......
ZEM18臺(tái)式掃描電鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品......
ZEM20臺(tái)式掃描電微鏡操作簡便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手......
