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掃描電子顯微鏡的原理及應(yīng)用

掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,SEM)是一種利用高速電子掃描來研究材料表面形態(tài)和結(jié)構(gòu)的儀器。相比于傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡,SEM具有更高的分辨率和深度,可以觀察到更小尺度的微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌。SEM在材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、電子學(xué)等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。

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掃描電子顯微鏡的原理

掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,SEM)是一種利用電子束與樣品相互作用,獲得高分辨率的顯微成像的儀器。其原理可以簡(jiǎn)單描述如下:電子源發(fā)射出電子束,經(jīng)過一系列的透鏡系統(tǒng)進(jìn)行聚焦,使得電子束成為一個(gè)極細(xì)的束。

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