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掃描電鏡中的低溫樣品觀察和操作要點(diǎn)

在掃描電子顯微鏡（SEM）中觀察和操作低溫樣品時(shí)，以下是一些要點(diǎn)：

掃描電子顯微鏡（SEM）的成像速度和分辨率之間存在一定的關(guān)系。一般來說，這兩個(gè)參數(shù)是相互制約的，即提高分辨率可能會(huì)導(dǎo)致成像速度的降低，而提高成像速度可能會(huì)對(duì)分辨率產(chǎn)生一定的影響。

掃描電子顯微鏡（SEM）通常提供兩種操作模式：高真空模式和低真空模式。

掃描電子顯微鏡（SEM）中的電子束對(duì)樣品會(huì)產(chǎn)生多種影響，包括以下幾個(gè)方面：

掃描電鏡（SEM）的成像原理是通過對(duì)樣品表面進(jìn)行掃描和檢測(cè)來獲取圖像。

掃描電鏡（SEM）和傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡在工作原理、分辨率、樣品準(zhǔn)備和觀察方式等方面存在顯著的區(qū)別。

在掃描電鏡（SEM）中，探針和探頭是兩個(gè)不同的概念，它們用于描述電子束與樣品之間的相互作用。

掃描電鏡（SEM）是一種常用于觀察材料表面形貌和進(jìn)行元素組成分析的儀器。