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掃描電鏡EDS有哪些分析功能

掃描電子顯微鏡（SEM）結(jié)合能量色散X射線光譜（EDS或EDX）技術(shù)，能夠提供多種成分分析功能。

在掃描電子顯微鏡（SEM）分析中，硅片常用于以下幾種情況：

對(duì)于非導(dǎo)電樣品，掃描電子顯微鏡（SEM）分析通常需要進(jìn)行導(dǎo)電處理，以防止在電子束照射下產(chǎn)生電荷積累，導(dǎo)致圖像失真或漂移。

掃描電子顯微鏡（SEM）可以結(jié)合能量色散X射線光譜（EDS或EDX）來進(jìn)行成分分析。

測量掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中的直徑需要一些特定的步驟和工具。

掃描電鏡（SEM）圖像的大小受到樣品與電子槍之間的距離（工作距離）的影響。這是由于SEM的工作原理決定的。

掃描電鏡（SEM）圖像變形通?？梢酝ㄟ^以下方法進(jìn)行調(diào)整：

分析掃描電鏡（SEM）圖像中的粒徑大小通常需要借助圖像處理和分析軟件。以下是一種常見的方法：