掃描電鏡能否直接觀察濕樣品? 日期:2025-03-18 普通的掃描電子顯微鏡(SEM)不能直接觀察濕樣品,因為 SEM 需要高真空環(huán)境來防止電子束散射,而濕樣品中的水分在真空中會迅速蒸發(fā),導致樣品形態(tài)變化甚至損壞。但有幾種特殊方法可以使 SEM 觀察濕樣品:1. 低真空(環(huán)境掃描電鏡,ESEM)原理:環(huán)境掃描電鏡(ESEM)允許在低真空或高濕度環(huán)境下觀察樣品,樣品表面可以保持一定水分。 優(yōu)勢:無需特殊制備,可直接觀察生物樣品、凝膠、乳液等。 應用:生物組織、食品、化學反應過程等。 2. 樣品冷凍(冷凍 SEM, Cryo-SEM)原理:將樣品快速冷凍(如液氮冷凍),然后在 SEM 真空腔中低溫觀察,防止水分蒸發(fā)。 優(yōu)勢:保持樣品原始結構,適用于高含水量樣品。 應用:生物細胞、植物組織、乳液、泡沫材料等。 3. 樣品包埋和固定方法:使用化學固定(如戊二醛、醇類脫水)或樹脂包埋,去除水分并維持結構。 優(yōu)勢:樣品可在普通 SEM 下觀察,但可能會有形態(tài)變化。 應用:生物組織、細胞、微生物等。 4. 使用導電膜包覆方法:用金、碳或鉑等導電材料鍍膜,減少水分散失并降低充電效應。 優(yōu)勢:適用于部分潮濕樣品,但不能保留完整水分。 應用:軟物質、聚合物、生物材料等。以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡能否直接觀察濕樣品的介紹。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢 TAG: 作者:澤攸科技 上一篇:如何處理樣品以避免在掃描電鏡下發(fā)生充電偽影? 下一篇:掃描電鏡成像時如何減少漂移?