在掃描電鏡中選擇適當?shù)奶綔y器角度和方向?qū)τ讷@得所需的信號和信息非常重要。不同的探測器角度和方向可以用于不同的成像和分析目的。以下是一些選擇適當?shù)奶綔y器角度和方向的一些建議：

后向散射電子成像：BSE探測器通常安裝在掃描電鏡底部，以檢測從樣品返回的高能電子。探測器角度通常與電子束方向相反。這種成像通常用于獲得樣品的原子序數(shù)信息，例如化學成分和晶體結(jié)構(gòu)。

同步輻射X射線熒光成像：XRF探測器通常安裝在樣品上方，以檢測從樣品表面發(fā)射的X射線。探測器的角度和位置取決于所需的元素成分分析。

透射電子顯微鏡：在TEM中，電子束透過樣品，而不是從樣品表面反射。探測器通常安裝在樣品的底部，以檢測透射電子的投射圖像。

散射電子顯微鏡：STEM中的電子束可以在樣品上進行定位，探測器可以以不同的角度和位置進行安裝，以獲取不同類型的信號，例如高角度散射電子成像。

能譜分析：用于能譜分析的探測器通常安裝在樣品上方，并根據(jù)所分析的元素以及所使用的光子或電子能量進行調(diào)整。

選擇取決于具體的研究目的，需要考慮所需的信號類型、分辨率、樣品類型和儀器配置。通常，通過嘗試不同的角度和方向來優(yōu)化圖像和分析是一個有效的方法，以獲得所需的信息。

ZEM20臺式掃描電鏡

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