臺式掃描電鏡（SEM）是一種非常有用的顯微鏡，它可以提供高分辨率的表面形貌圖像和材料的電子衍射模式。以下是它們的特點：

顯微圖像： SEM可以通過掃描樣品表面并記錄從電子束樣品相互作用中產(chǎn)生的二次電子、反射電子或透射電子來獲得高分辨率的表面圖像。這些顯微圖像用于觀察樣品的表面形貌、粗糙度、微結構和表面特征。SEM的圖像通常是黑白的，但它們提供了細節(jié)和對樣品的深入了解。

電子衍射模式： SEM還可以用于獲取樣品的電子衍射模式。電子衍射是一種利用電子的波動性質(zhì)來研究晶體結構的技術。通過聚焦電子束，可以獲取樣品中的晶格信息，包括晶格常數(shù)和結構定向。電子衍射圖樣通常呈環(huán)形或斑點狀，可以用于確定材料的晶體結構。

這些功能使SEM成為材料科學、納米技術、生物學和地質(zhì)學等領域的重要工具。它可以用于分析材料表面、納米顆粒、細胞結構、金屬晶粒等等。 SEM的顯微圖像和電子衍射模式提供了獨特的信息，有助于研究人員更深入地理解各種樣品的結構和性質(zhì)。

ZEM20臺式掃描電鏡

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