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掃描電鏡是否可以用于觀察液體樣品?

日期:2023-08-01

傳統(tǒng)的掃描電鏡(SEM)通常不能直接用于觀察液體樣品。SEM是一種在高真空條件下工作的顯微鏡,它通過照射樣品表面的電子束來獲取高分辨率的表面形貌和形態(tài)信息。在高真空下,液體樣品會迅速蒸發(fā),導(dǎo)致樣品失真和掃描電鏡的損壞。

然而,近年來有一些先進的技術(shù)已經(jīng)被開發(fā)出來,使得一些特殊類型的液體樣品能夠在SEM中進行觀察。這些技術(shù)主要包括:

低真空SEM:一些SEM設(shè)備可以在較低真空條件下工作,稱為低真空SEM(Low Vacuum SEM)。在低真空下,液體樣品不會迅速蒸發(fā),而是可以保持相對穩(wěn)定的狀態(tài),從而允許對某些液體樣品進行觀察。

冷凍樣品制備:對于某些液體樣品,可以采用冷凍技術(shù)將其固化,然后在低溫下放入SEM中進行觀察。這樣可以在液體樣品保持原貌的同時避免液體蒸發(fā)的問題。

壓力梯度制備:有些研究中使用了壓力梯度技術(shù),使液體樣品懸浮在氣體或溶液中,然后在SEM中觀察。這種方法可以有效地保持液體樣品的形態(tài)。

需要指出的是,這些技術(shù)仍然有一些限制和挑戰(zhàn),例如樣品制備的復(fù)雜性、樣品表面的水分影響等。因此,在使用SEM觀察液體樣品之前,仍然需要深入了解樣品的性質(zhì)和選擇合適的樣品制備方法。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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作者:澤攸科技