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臺(tái)式掃描電鏡電子束校準(zhǔn)步驟

日期:2023-06-14

在使用臺(tái)式掃描電鏡(SEM)時(shí),進(jìn)行電子束校準(zhǔn)是確保獲得準(zhǔn)確和可靠結(jié)果的重要步驟之一。以下是一般情況下的電子束校準(zhǔn)步驟:

加載樣品:將您要觀察的樣品放置在SEM樣品臺(tái)上,并確保樣品固定穩(wěn)定。

調(diào)整放大倍數(shù):選擇適當(dāng)?shù)姆糯蟊稊?shù)以獲得所需的觀察尺度。調(diào)整SEM儀器的放大倍數(shù)控制,使樣品在屏幕上適當(dāng)大小顯示。

調(diào)整工作距離(Working Distance):工作距離是指電子槍和樣品之間的距離。通過調(diào)整SEM儀器的工作距離控制,使電子束與樣品的焦點(diǎn)位置達(dá)到適合狀態(tài)。通常,工作距離的調(diào)整是通過觀察樣品圖像的清晰度來完成的。根據(jù)您的SEM儀器型號(hào),可能需要使用自動(dòng)或手動(dòng)控制來調(diào)整工作距離。

調(diào)整對(duì)比度和亮度:根據(jù)需要,調(diào)整SEM儀器的對(duì)比度和亮度設(shè)置,以獲得清晰的圖像。這可以通過控制圖像增益、曝光時(shí)間或者亮度/對(duì)比度調(diào)節(jié)器來完成。

校準(zhǔn)掃描電鏡參數(shù):根據(jù)SEM儀器的要求和操作手冊(cè),對(duì)一些重要參數(shù)進(jìn)行校準(zhǔn)。這些參數(shù)可能包括電子束電壓、電子束對(duì)準(zhǔn)、掃描速度和掃描模式等。根據(jù)SEM儀器的型號(hào)和軟件界面,校準(zhǔn)這些參數(shù)可能需要在設(shè)備控制面板或者計(jì)算機(jī)軟件中進(jìn)行。

確認(rèn)校準(zhǔn):進(jìn)行校準(zhǔn)后,通過觀察標(biāo)準(zhǔn)樣品(如標(biāo)準(zhǔn)刻度尺或標(biāo)準(zhǔn)顆粒)來確認(rèn)電子束的校準(zhǔn)準(zhǔn)確性。檢查圖像的尺寸、形狀和細(xì)節(jié),確保它們與已知的標(biāo)準(zhǔn)相匹配。

請(qǐng)注意,具體的電子束校準(zhǔn)步驟可能因不同的SEM儀器型號(hào)和軟件而有所不同。因此,在進(jìn)行電子束校準(zhǔn)之前,建議仔細(xì)閱讀SEM儀器的操作手冊(cè),并按照手冊(cè)中的指導(dǎo)進(jìn)行操作。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

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作者:澤攸科技