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掃描電鏡樣品制備中的常見問題

日期:2023-06-02

在掃描電鏡樣品制備過程中,常見問題可能會(huì)影響樣品的質(zhì)量和觀察結(jié)果。以下是一些常見問題及其可能的解決方法:

樣品污染:樣品表面的污染物(如灰塵、油脂等)可能干擾到掃描電鏡觀察。解決方法包括在制備過程中保持清潔環(huán)境,使用無塵工作臺(tái)或干凈的實(shí)驗(yàn)室條件,以及在樣品表面清洗或去除污染物。

樣品損傷:制備過程中,樣品可能會(huì)受到損傷,導(dǎo)致形貌變形或結(jié)構(gòu)損壞。為避免樣品損傷,需要選擇適當(dāng)?shù)臉悠分苽浞椒?,如使用合適的切割工具、磨削和拋光技術(shù),并在制備過程中小心操作。

殘留溶劑或化學(xué)物質(zhì):制備樣品時(shí)使用的溶劑、固定劑或顯影劑可能會(huì)在樣品上留下殘留物,干擾掃描電鏡觀察。解決方法包括去除殘留物,例如通過洗滌、溶解或選擇更適合的化學(xué)制劑。

電荷積聚:某些樣品具有電導(dǎo)性差,容易在掃描電鏡中產(chǎn)生電荷積聚,導(dǎo)致圖像出現(xiàn)偽影。解決方法可以使用導(dǎo)電性涂層(如金屬薄膜或碳納米管)來增加樣品的導(dǎo)電性,或者通過較低的電子束電壓和較短的觀察時(shí)間來減少電荷積聚效應(yīng)。

樣品選擇和準(zhǔn)備不當(dāng):選擇不適合掃描電鏡觀察的樣品,或者在制備過程中未正確處理樣品,可能導(dǎo)致無法獲得清晰的圖像或無法準(zhǔn)確觀察所需的結(jié)構(gòu)。解決方法包括仔細(xì)選擇適合的樣品,了解樣品的特性和制備要求,并遵循正確的制備步驟和技術(shù)。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

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作者:澤攸科技