掃描電鏡（SEM）是一種通過(guò)掃描樣品表面并記錄電子信號(hào)的技術(shù)。在掃描電鏡中，電子束被用來(lái)照射樣品表面，從而產(chǎn)生信號(hào)，這些信號(hào)被轉(zhuǎn)換成圖像并被記錄下來(lái)。在掃描電鏡中，樣品通常需要保持干燥，原因如下：

避免水分對(duì)信號(hào)的干擾：掃描電鏡使用的電子束是高能量的，樣品表面的水分會(huì)吸收和散射電子束，從而產(chǎn)生干擾信號(hào)，影響圖像質(zhì)量和分辨率。

避免樣品形變：在高真空條件下，水分可能會(huì)從樣品中蒸發(fā)，導(dǎo)致樣品表面形變，影響掃描電鏡的分辨率和圖像質(zhì)量。

保護(hù)儀器：在掃描電鏡中，樣品表面需要與電子束直接接觸，保持樣品干燥可以避免樣品中的水分進(jìn)入到掃描電鏡中，從而保護(hù)儀器免受損壞。

因此，保持樣品干燥是掃描電鏡技術(shù)的一個(gè)重要步驟，也是獲得高質(zhì)量圖像的關(guān)鍵之一。

ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡

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