掃描電子顯微鏡SEM知識科普，掃描電子顯微鏡SEM（scanning electron microscope）

       掃描電子顯微鏡的制造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的入射電子轟擊物質表面時，被激發(fā)的區(qū)域將產生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產生的電磁輻射。同時，也可產生電子-空穴對、晶格振動 （聲子）、電子振蕩 （等離子體）。原則上講，利用電子和物質的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等。

掃描電子顯微鏡SEM 機構組成

       掃描電子顯微鏡由三大部分組成：真空系統(tǒng)，電子束系統(tǒng)以及成像系統(tǒng)。

掃描電子顯微鏡SEM 基本參數

       放大率：通過控制掃描區(qū)域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到

    場深：掃描電子顯微鏡SEM中，位于焦平面上下的一小層區(qū)域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用于納米級樣品的三維成像。

       工作距離：工作距離指從物鏡到樣品高點的垂直距離。

                         如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。  

                         如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的分辨率。

                         通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

掃描電子顯微鏡SEM應用

       生物：種子、花粉、細菌……

       醫(yī)學：血球、病毒……

       動物：大腸、絨毛、細胞、纖維……

       材料：陶瓷、高分子、粉末、環(huán)氧樹脂……

       化學、物理、地質、冶金、礦物 、機械、電機及導電性樣品、電子材料等。

以上就是澤攸科技小編介紹的掃描電子顯微鏡SEM知識科普，想要了解更多可以在線咨詢或是直接咨詢18817557412(微信同號)