ZEM臺(tái)式掃描電鏡對(duì)樣品有哪些要求?
日期:2021-02-02
ZEM臺(tái)式掃描電鏡對(duì)樣品有哪些要求?大家都知道用臺(tái)式掃描電鏡主要看的是微觀世界,那么臺(tái)式掃描電鏡主要功能是用于固態(tài)物質(zhì)的形貌顯微分析和對(duì)常規(guī)成分的微區(qū)分析,廣泛應(yīng)用于化工、材料、醫(yī)藥、生物、礦產(chǎn)、司法等領(lǐng)域。
ZEM臺(tái)式掃描電鏡對(duì)樣品的要求
1、樣品是無(wú)毒、無(wú)放射性的物質(zhì);
2、樣品可以是塊狀、片狀、纖維狀,也可以是顆?;蚍勰?,無(wú)論是什么樣的樣品都不能是有機(jī)揮發(fā)物和含有水分,如果將含有水分的樣品放在鏡筒內(nèi)能產(chǎn)生2種嚴(yán)重不良后果:一是當(dāng)真空達(dá)不到要求強(qiáng)行通高壓時(shí),其產(chǎn)生的水蒸汽遭遇高能電子流產(chǎn)生電離而放電引起束流大幅度波動(dòng),使所成的像模糊,或根本不能成像;二是造成鏡筒污染;三是損壞燈絲,當(dāng)高能電壓通過燈絲時(shí),溫度高達(dá)2000Ο,碰到水蒸汽而氧化變質(zhì)或熔斷,因此,應(yīng)先烘干樣品中的水分;
3、無(wú)論是塊狀樣品,還是粉末顆粒狀樣品,其化學(xué)、物理性質(zhì)要穩(wěn)定,在高真空中的電子束照射下,都要能保持成分穩(wěn)定和形態(tài)不變;
4、表面受到污染的樣品,要在不破壞樣品表面結(jié)構(gòu)的前提下,進(jìn)行適當(dāng)清洗、烘干;
5、無(wú)論是樣品的表面,還是樣品新斷開的斷口或斷面,一般不需要進(jìn)行處理,以保持全自動(dòng)掃描電子顯微鏡原始的結(jié)構(gòu)狀態(tài);
臺(tái)式掃描電鏡的產(chǎn)品特性:
(1)臺(tái)式掃描電鏡,體型小巧,占用空間??;
(2)強(qiáng)大的軟件功能,單窗口操作界面讓用戶操作方便簡(jiǎn)單;
(3)軟件實(shí)現(xiàn)檢測(cè)圖形實(shí)時(shí)存儲(chǔ);
(4)掃描電鏡產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔,易于維護(hù)及保養(yǎng);
(5)自動(dòng)平臺(tái)采用中心定位模式,迅速定位待測(cè)樣品;
(6)高低壓真空設(shè)計(jì),可調(diào)式電壓,為不同樣品提供更合適的檢測(cè)環(huán)境。
臺(tái)式掃描電鏡不僅應(yīng)用于研究機(jī)構(gòu),而且還越來越廣泛地應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域,成為制造業(yè)品質(zhì)管理的利器。但是,隨著全自動(dòng)掃描電鏡越來越多地用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng),操作人員經(jīng)常觀察樣品,而不了解專業(yè)知識(shí)的操作人員日益增多。
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作者:小攸