可以的，ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡的使用為研究提供了重要的視覺(jué)證據(jù)，幫助研究人員理解PLT如何影響材料的表面特性，這些特性的變化直接關(guān)聯(lián)到材料的光學(xué)和電物理性能。例如表面形態(tài)的改變可能會(huì)影響材料的反射率和吸收特性，而這些都是評(píng)估材料在光電應(yīng)用中性能的關(guān)鍵因素。此外通過(guò)ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡的分析還有助于揭示PLT過(guò)程中可能發(fā)生的材料相變或化學(xué)組成的變化，這對(duì)于深入理解PLT對(duì) 材料性能影響的機(jī)理至關(guān)重要。

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡

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