掃描電鏡對(duì)樣品大小要求
掃描電鏡?（SEM）樣品的大小要求因所需觀察的特定特征而異，但通常樣品大小應(yīng)大于或等于數(shù)毫米，并且足夠薄以透過(guò)電子束。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-04-26
掃描電鏡?（SEM）樣品的大小要求因所需觀察的特定特征而異，但通常樣品大小應(yīng)大于或等于數(shù)毫米，并且足夠薄以透過(guò)電子束。
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第二屆中國(guó)（安徽）科技創(chuàng)新成果轉(zhuǎn)化交易會(huì)（以下簡(jiǎn)稱“科交會(huì)”）將于4月26日至28日在合肥濱湖國(guó)際會(huì)展中心舉行。
MORE INFO → 公司新聞 2023-04-26
掃描電鏡?（SEM）和光學(xué)掃描電鏡（OSEM）是兩種常用于材料科學(xué)、生物科學(xué)等領(lǐng)域的顯微鏡
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2023-04-25
掃描電鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）的信號(hào)采集類型通常包括以下幾種：
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-04-25
掃描電鏡（SEM）制樣的難度可以因多種因素而異，包括樣品的性質(zhì)、形態(tài)、尺寸、結(jié)構(gòu)以及所需的觀察目的和實(shí)驗(yàn)條件等。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-04-25
掃描電鏡（SEM）制樣的冷臺(tái)法是一種常用于金屬和導(dǎo)電樣品的制樣方法，通常涉及使用液氮或液氦冷卻樣品，以減少電子束輻照引起的熱損傷。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-04-25
掃描電鏡?制樣冷臺(tái)法是一種用于制備樣品以進(jìn)行掃描電鏡（SEM）觀察的方法，其中樣品在制備過(guò)程中通過(guò)使用冷卻臺(tái)或冷凍介質(zhì)來(lái)保持較低的溫度，以減少電子束輻照引起的熱損傷。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-04-25
掃描電子顯微鏡?（Scanning Electron Microscope，SEM）是一種高分辨率的顯微鏡，其原理是利用電子束掃描樣品表面并收集散射電子、反射電子、二次電子等信號(hào)，經(jīng)過(guò)信號(hào)的放大、處理和成像后得到高清晰度的樣品表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)信息。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-04-24