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掃描電鏡的加速電壓對(duì)圖像分辨率有何影響

掃描電子顯微鏡（SEM）的加速電壓對(duì)圖像分辨率有重要影響。

掃描電子顯微鏡（SEM）的能譜分析功能是通過(guò)能譜儀（EDS）或能量色散X射線光譜儀（EDX）實(shí)現(xiàn)的。

掃描電子顯微鏡的掃描速度是指電子束在樣品表面掃描的速度。

掃描電子顯微鏡（SEM）的探針電流是指通過(guò)樣品表面的電子束電流。

傳統(tǒng)的掃描電鏡（SEM）對(duì)于非導(dǎo)電樣品確實(shí)存在困難，因?yàn)榉菍?dǎo)電樣品在高真空環(huán)境下容易產(chǎn)生電荷積聚，導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降。

掃描電鏡（SEM）圖像的分析處理方法可以幫助提取和解釋有關(guān)樣品的信息。

在掃描電鏡（SEM）中，放大和聚焦是獲取清晰圖像的關(guān)鍵步驟。

在掃描電鏡（SEM）中，低真空問(wèn)題可能會(huì)導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降或樣品受損。