如何預(yù)防掃描電鏡中的樣品表面電荷積累？ 在掃描電鏡（SEM）中，樣品表面電荷積累是一個常見的問題，它可能導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降，特別是在非導(dǎo)電或絕緣性材料上。 MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2023-09-07
掃描電鏡可以進(jìn)行化學(xué)成分分析嗎？ 掃描電鏡（SEM）本身不能進(jìn)行化學(xué)成分分析，但可以與能量色散X射線光譜儀（EDS）或能量色散X射線分析儀（EDX）結(jié)合使用來進(jìn)行化學(xué)成分分析。 MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2023-09-06
三會相約┃9月6日澤攸科技攜科學(xué)儀器亮相深圳光博會、深圳電池展、北京BCEIA2023 9月6日，第24屆中國國際光電博覽會與2023深圳國際電池技術(shù)展覽會將在深圳舉行，BCEIA2023第二十屆北京分析測試學(xué)術(shù)報告會暨展覽會將在北京舉行，澤攸科技將攜一眾先進(jìn)科學(xué)儀器，及微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案，誠邀您共赴盛會！ MORE INFO → 公司新聞 2023-09-05
掃描電鏡元素分析與能譜分析之間有何不同 掃描電子顯微鏡（SEM）元素分析和能譜分析是兩種密切相關(guān)但有著不同焦點的技術(shù)。 MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2023-09-05
掃描電鏡元素分析的數(shù)據(jù)處理和解釋方法 掃描電子顯微鏡（SEM）元素分析是一種用于確定樣品表面元素組成的強大工具。 MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2023-09-05
掃描電鏡二次電子探測的原理 掃描電子顯微鏡（SEM）是一種強大的顯微鏡，它使用電子束而不是光來照射樣品，從而實現(xiàn)更高的分辨率。 MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2023-09-04
